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    bob游戏app下载热分析设备--选型指南

    来源:久滨仪器 浏览次数:次 日期:2020-3-24
    如不清楚样品的特性或无法选型,可以联系我公司销售人员;同时,bob游戏app下载欢迎您的莅临,现场检验设备的性能。
      热分析设备是一种通过加热,检测样品温度与重量、差热信号的关系,热分析设备主要分为差示扫描量热仪(差热法DSC,DTA)、热重分析仪(热重法TGA,DTG)、综合热分析(DSC-DTA-TGA)三个大类:
    第1类:差示扫描量热仪
      差示扫描量热仪(Differential Scanning Calorimetry,差热法,DSC,DTA)主要是测试样品的熔点、热固化、光固化、冷结晶、相变潜热、玻璃化转变温度、氧化诱导期、分解温度、比热容、反应动力学等
    第二类:热重分析仪
      热重分析仪(Thermal Gravimetric Analyzer,热重法TGA,DTG)主要是测试的是样品质量随着温度变化(或时间变化,比如说在某温度下恒温X小时)而变化的关系。
    第三类:综合热分析仪
      综合热分析仪(Simultaneous Thermal Analyzer,同步热分析仪,DSC-TGA或DTA-TGA)在测试样品的重量变化的同时,测试样品发生的差热变化。
    以上三种热分析仪,为通用型常见的检测设备,每一种设备都有十几、二十种型号,究竟如何选型?
      大概的方向如下:首先,确认一下需要测试的项目,是重量方向还是差热方向,或者两个都需要?其次根据温度,比如说,测试铅的熔点,铅熔点为327.5℃,那么使用差示扫描量热仪(DSC)室温~500℃即可。
    第1类:差示扫描量热仪(选型)
    我公司差示扫描量热仪主要类型:
    1、只测试等温氧化诱导期(氧化诱导时间、OIT),主要是电线电缆、管道行业;
    ① OIT-500A(是一体机设备,内嵌工控电脑,无需另配电脑,一键式操作测试氧化诱导期)
      OIT-500B(需要外配电脑使用)
    2、任意测试熔点、热固化、冷结晶相变潜热、玻璃化转变温度、氧化诱导期、分解温度,行业不限;
    ②根据样品的待测温度选择适当的范围:-160℃~500℃/800℃,-40℃/-30℃/-20℃/-10℃~500℃,可以选择:RT~500℃/800℃/150℃/1450℃/1550℃;温度适合的比较好,不建议预留温度区间过大,比如说应该在600℃左右,DSC-800即可(RT~800℃),如果没有扩项的需要,选择RT~1550℃或者-160℃~800℃,就不是很合适了。
    第二类:热重分析仪(选型)
    我公司热重分析仪主要类型:
    ①按照温度分:TGA-1000系列(RT-1000℃),TGA-1250系列(RT-1250℃),TGA-1450系列(RT-1450℃);
    ②按照天平档次分:TGA-A系列(国产0.1mg分辨率的普通天平),TGA-B系列(国产0.01mg分辨率的天平)
    第三类:综合热分析仪(选型)
    我公司综合热分析仪主要类型与热重分析仪类似:
    ①按照温度分:STA-1150,STA-1450
    选型方案不是的,如不清楚样品的特性或未知选型,可以联系我公司销售人员

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